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2024
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IEEE transactions on electron devices, 2024-06, Vol.71 (6), p.3445-3457
2024
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IEEE electron device letters, 2021-08, Vol.42 (8), p.1188-1191
2021
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Journal of applied physics, 2015-12, Vol.118 (22)
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2019-10, Vol.66 (10), p.4354-4360
2019
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IEEE transactions on electron devices, 2009-09, Vol.56 (9), p.2128-2136
2009
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Thin solid films, 2013-08, Vol.541, p.57-61
2013
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IEEE transactions on ultrasonics, ferroelectrics, and frequency control, 2010-12, Vol.57 (12), p.2753-2763
2010
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2020 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2020, p.329-332
2020
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Microelectronic engineering, 2014-05, Vol.119, p.16-19
2014
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IEEE transactions on electron devices, 2013-03, Vol.60 (3), p.1005-1010
2013
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Thin solid films, 2010-03, Vol.518 (10), p.2854-2859
2010
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IEEE electron device letters, 2007-09, Vol.28 (9), p.821-824
2007
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Journal of applied physics, 2015-12, Vol.118 (22)
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2012-01, Vol.59 (1), p.26-34
2012
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Solid-state electronics, 2015-11, Vol.113, p.28-34
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2004-08, Vol.51 (8), p.1323-1330
2004
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Microelectronic engineering, 2014, Vol.119, p.16-19
2014
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2016 46th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2016, p.264-267
2016
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2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2016, p.164-167
2016
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2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2014, p.274-277
2014
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2015 IEEE 27th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2015, p.165-168
2015
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Analysis of the Kirk effect in silicon-based bipolar transistors with a nonuniform collector profile
2005
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2013 25th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2013, p.237-240
2013
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2012 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2012, p.125-128
2012
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