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IEEE electron device letters, 2013-06, Vol.34 (6), p.732-734
2013
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IEEE electron device letters, 2013-06, Vol.34 (6), p.732-734
2013
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IEEE electron device letters, 2013-06, Vol.34 (6), p.732-734
2013
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Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2010-06, Vol.81 (23), Article 235317
2010
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Journal of applied physics, 2011-01, Vol.109 (1), p.014324-014324-6
2011
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2012
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Thin solid films, 2007-06, Vol.515 (16), p.6596-6600
2007
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Diffusion and defect data. Solid state data. Pt. A, Defect and diffusion forum, 2006-10, Vol.258-260, p.554-561
2006
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Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2012-07, Vol.86 (3), Article 035306
2012
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2013-10, Vol.MA2013-02 (24), p.1869-1869
2013
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2010-07, Vol.MA2010-02 (6), p.355-355
2010
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