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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.10C.1-1-10C.1-6
2022

Journal of applied crystallography, 2018-02, Vol.51 (1), p.47-54
2018
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2018 IEEE 20th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2018, p.206-210
2018
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2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023, p.1-4
2023




2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2021, p.1-4
2021

2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2018, p.1-7
2018





2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2017, p.1-5
2017

2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2019, p.1-4
2019

2016 IEEE 23rd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2016, p.216-219
2016

2016 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), 2016, p.1-2
2016
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2012 1st International Symposium on Physics and Technology of Sensors (ISPTS-1), 2012, p.1-1
2012
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