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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2022, Vol.56 (1), p.22-24
2022
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Technical physics, 2018-10, Vol.63 (10), p.1415-1419
2018
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2023-09, Vol.57 (9), p.389-392
2023
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Technical physics, 2024, Vol.69 (3), p.764-768
2024
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Journal of physics. Conference series, 2019-12, Vol.1348 (1), p.12027
2019
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Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2021-07, Vol.15 (4), p.841-845
2021
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Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2021-07, Vol.15 (4), p.777-780
2021
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2017-07, Vol.51 (7), p.874-875
2017
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2019-06, Vol.53 (6), p.756-760
2019
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Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2021, Vol.15 (3), p.467-470
2021
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Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2020-09, Vol.14 (5), p.913-917
2020
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2023-09, Vol.57 (9), p.389
2023
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2024
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Measurement techniques, 2014-07, Vol.57 (4), p.401-408
2014
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