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2007
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Solid-state electronics, 2008-09, Vol.52 (9), p.1274-1279
2008
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Solid-state electronics, 2009-12, Vol.53 (12), p.1246-1251
2009
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Microelectronic engineering, 2009-07, Vol.86 (7), p.1683-1685
2009
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Solid-state electronics, 2009-12, Vol.53 (12), p.1246-1251
2009
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2009-01, Vol.27 (1), p.352-355
2009
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2009-01, Vol.27 (1), p.249-252
2009
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Microelectronic engineering, 2006-04, Vol.83 (4), p.1551-1554
2006
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Solid-state electronics, 2006-06, Vol.50 (6), p.979-985
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Solid-state electronics, 2007, Vol.51 (4), p.617-621
2007
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Microelectronic engineering, 2009-07, Vol.86 (7), p.1642-1645
2009
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Microelectronic engineering, 2008-10, Vol.85 (10), p.2019-2021
2008
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Microelectronic engineering, 2005-03, Vol.78 (SI), p.212-217
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Microelectronic engineering, 2007, Vol.84 (9), p.1968-1971
2007
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Microelectronic engineering, 2007-09, Vol.84 (9-10), p.1968-1971
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Journal of non-crystalline solids, 2005-07, Vol.351 (21), p.1885-1889
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Microelectronic engineering, 2005-12, Vol.82 (3), p.497-502
2005
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IEEE electron device letters, 2006-10, Vol.27 (10), p.814-816
2006
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IEEE electron device letters, 2006-10, Vol.27 (10), p.814-816
2006
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Advanced materials research, 2011, Vol.276, p.87-93
2011
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IEEE electron device letters, 2006-10, Vol.27 (10), p.814
2006
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Microelectronics and reliability, 2005, Vol.45 (5), p.953-956
2005
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Materials science in semiconductor processing, 2006, Vol.9 (6), p.904-908
2006
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Solid-state electronics, 2006, Vol.50 (6), p.979-985
2006
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Microelectronics and reliability, 2005-05, Vol.45 (5-6), p.953-956
2005
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