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Secondary-electron-production cross sections for electron-impact ionization of helium
Physical review. A, General physics, 1986-07, Vol.34 (1), p.103-126
1986
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Secondary-electron-production cross sections for electron-impact ionization of molecular nitrogen
Physical review. A, General physics, 1987-01, Vol.35 (2), p.540-558
1987
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The second Born approximation for electron scattering. II: The high energy limit for small angle dipole allowed inelastic scattering from atoms
The Journal of chemical physics, 1986-03, Vol.84 (6), p.3068-3077
1986
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Controlled silicon thinning for design debug of C4 packaged ICs
1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296), 1999, p.327-332
1999
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High density interconnect verification using voltage contrast electron beam
[1991 Proceedings] Eleventh IEEE/CHMT International Electronics Manufacturing Technology Symposium, 1991, p.270-274
1991
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