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Russian journal of nondestructive testing, 2022, Vol.58 (1), p.10-22
2022
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История: факты и символы, 2022-03 (1), p.54-60
2022
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Russian journal of nondestructive testing, 2018-06, Vol.54 (6), p.455-461
2018
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Russian journal of nondestructive testing, 2024-06, Vol.60 (6), p.666-671
2024
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Дефектоскопия, 2024-12 (6), p.39-45
2024
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Russian journal of nondestructive testing, 2010-12, Vol.46 (12), p.884-886
2010
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Russian journal of nondestructive testing, 2013-05, Vol.49 (5), p.278-282
2013
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Istoricheskai͡a︡ i sot͡s︡ialʹno-obrazovatelʹnai͡a︡ myslʹ, 2017-01, Vol.9 (3/2), p.163-167
2017
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Measurement techniques, 2006-12, Vol.49 (12), p.1241-1245
2006
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1998
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Bulletin of the Moscow State Regional University (History and Political Science), 2022 (2), p.115-120
2022
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Chip training conditions
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2000
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Russian microelectronics, 2011-12, Vol.40 (7), p.533-537
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2010
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Russian microelectronics, 2007-07, Vol.36 (4), p.261-270
2007
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2009-12, Vol.43 (13), p.1737-1741
2009
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Russian microelectronics, 2006-07, Vol.35 (4), p.235-242
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Russian microelectronics, 2005-01, Vol.34 (1), p.22-29
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Russian microelectronics, 2004-01, Vol.33 (1), p.18-26
2004
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Soviet Physics Journal, 1966, Vol.8 (1), p.131-132
1966
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PLoS genetics, 2023-02, Vol.19 (2), p.e1010472-e1010472
2023
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Clinical genetics, 2011-03, Vol.79 (3), p.199-206
2011
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