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2003
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Solid-state electronics, 2005-03, Vol.49 (3), p.369-376
2005
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Thin solid films, 2005-01, Vol.471 (1), p.123-127
2005
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Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2003-09, Vol.102 (1), p.152-155
2003
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Solid-state electronics, 2006-09, Vol.50 (9-10), p.1479-1482
2006
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Materials science forum, 2003-09, Vol.433-436, p.375-378
2003
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Applied physics letters, 2002-09, Vol.81 (10), p.1824-1826
2002
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2004
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2004
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Solid-state electronics, 2005, Vol.49 (3), p.369-376
2005
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2004
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Simulation of scanning capacitance microscopy measurements on ultranarrow doping profiles in silicon
2004
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2004-01, Vol.22 (1), p.369-372
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2002-11, Vol.20 (6), p.2281-2287
2002
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2002-11, Vol.20 (6), p.2281-2287
2002
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