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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2014-09, Vol.33 (9), p.1396-1409
2014
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2021-03, Vol.40 (3), p.584-597
2021
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Journal of electronic testing, 2010-06, Vol.26 (3), p.307-322
2010
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2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023, p.286-292
2023
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2008-07, Vol.27 (7), p.1329-1333
2008
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2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021, p.103-108
2021
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2024 IEEE 8th International Test Conference India (ITC India), 2024, p.1-6
2024
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2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2012, p.230-235
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2007 IEEE International Test Conference, 2007, p.1-10
2007
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2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009, p.179-184
2009
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37th International Symposium on Multiple-Valued Logic (ISMVL'07), 2007, p.6-6
2007
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2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference, 2006, p.1095-1098
2006
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2007 IEEE International Test Conference, 2007, p.1-9
2007
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2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2013, p.42-47
2013
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2012 15th Euromicro Conference on Digital System Design, 2012, p.823-829
2012
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2009 10th Latin American Test Workshop, 2009, p.1-6
2009
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IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI: New Frontiers in VLSI Design (ISVLSI'05), 2005, p.212-217
2005
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12th IEEE European Test Symposium (ETS'07), 2007, p.137-144
2007
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2007 5th IEEE/ACM International Conference on Formal Methods and Models for Codesign (MEMOCODE 2007), 2007, p.181-187
2007
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IEEE design and test, 2022-10, Vol.39 (5), p.17-25
2022
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E-Learning, E-Education, and Online Training, p.125-134
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