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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2014-09, Vol.33 (9), p.1396-1409
2014
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2021-03, Vol.40 (3), p.584-597
2021
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2008-07, Vol.27 (7), p.1329-1333
2008
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2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021, p.103-108
2021
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2024 IEEE 8th International Test Conference India (ITC India), 2024, p.1-6
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2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2012, p.230-235
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2007 IEEE International Test Conference, 2007, p.1-10
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Restrict Encoding for Mixed-Mode BIST
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2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2013, p.42-47
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2009 10th Latin American Test Workshop, 2009, p.1-6
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12th IEEE European Test Symposium (ETS'07), 2007, p.137-144
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2007 5th IEEE/ACM International Conference on Formal Methods and Models for Codesign (MEMOCODE 2007), 2007, p.181-187
2007
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