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Measurement science & technology, 2011-01, Vol.22 (1), p.015704-015704
2011
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2019
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Microelectronics and reliability, 2021-09, Vol.124, p.114283, Article 114283
2021
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Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113731, Article 113731
2020
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Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113852, Article 113852
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2015 IEEE 13th International Conference on Industrial Informatics (INDIN), 2015, p.168-173
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2021 27th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC), 2021, p.1-5
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2021 23rd European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'21 ECCE Europe), 2021, p.1-P.10
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2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.446-452
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2022 14th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM), 2022, p.1-5
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2022 Austrochip Workshop on Microelectronics (Austrochip), 2022, p.37-40
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ESSDERC 2007 - 37th European Solid State Device Research Conference, 2007, p.139-142
2007
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