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Applied physics letters, 2019-09, Vol.115 (13)
2019
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Journal of applied physics, 2017-06, Vol.121 (24)
2017
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Materials science in semiconductor processing, 2020-07, Vol.113, p.105038, Article 105038
2020
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Applied physics letters, 2016-09, Vol.109 (13)
2016
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Microelectronic engineering, 2016-04, Vol.156 (SI), p.86-90
2016
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Microelectronic engineering, 2016-04, Vol.156, p.91-96
2016
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Cavalcante, C.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Batude, P.
- Garros, X.
- Federspiel, X.
- Lacord, J.
- Kerdiles, S.
- Royet, A. S.
- Acosta-Alba, P.
- Rozeau, O.
- Barral, V.
- Arnaud, F.
- Planes, N.
- Sassoulas, P. O.
- Ghegin, E.
- Beneyton, R.
- Gregoire, M.
- Weber, O.
- Guerin, C.
- Arnaud, L.
- Moreau, S.
- Kies, R.
- Romano, G.
- Rambal, N.
- Magalhaes, A.
- Ghibaudo, G.
- Colinge, J. P.
- Vinet, M.
- Andrieu, F.
2020
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Pasini, L.
- Batude, P.
- Lacord, J.
- Casse, M.
- Mathieu, B.
- Sklenard, B.
- Luce, F. Piegas
- Micout, J.
- Payet, A.
- Mazen, F.
- Besson, P.
- Ghegin, E.
- Borrel, J.
- Daubriac, R.
- Hutin, L.
- Blachier, D.
- Barge, D.
- Chhun, S.
- Mazzocchi, V.
- Cros, A.
- Barnes, J.-P
- Saghi, Z.
- Delaye, V.
- Rambal, N.
- Lapras, V.
- Mazurier, J.
- Weber, O.
- Andrieu, F.
- Brunet, L.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Rafhay, Q.
- Ghibaudo, G.
- Cristiano, F.
- Haond, M.
- Boeuf, F.
- Vinet, M.
2016
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2015 15th International Workshop on Junction Technology (IWJT), 2015, p.54-57
2015
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2015 15th International Workshop on Junction Technology (IWJT), 2015, p.58-60
2015
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2015 IEEE International Interconnect Technology Conference and 2015 IEEE Materials for Advanced Metallization Conference (IITC/MAM), 2015, p.269-272
2015
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2018 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC), 2018, p.19-21
2018
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2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, p.24.1.1-24.1.4
2017
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2016 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2016, p.214-215
2016
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2015 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2015, p.1-2
2015
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2016 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2016, p.140-141
2016
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