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2021
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Microelectronics and reliability, 2014-04, Vol.54 (4), p.682-697
2014
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1749-1752
2014
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-5
2021
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-5
2021
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Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.1918-1923
2012
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2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2015, p.157-160
2015
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2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2015, p.2449-2452
2015
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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.3A.2.1-3A.2.5
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2013-02, Vol.60 (2), p.833-839
2013
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.23.6.1-23.6.4
2020
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Microelectronics and reliability, 2015-08, Vol.55 (9-10), p.1307-1312
2015
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Microelectronics and reliability, 2015-08, Vol.55 (9-10), p.1307-1312
2015
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2012 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2012, p.109-112
2012
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2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, p.20.4.1-20.4.4
2015
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2015 International Workshop on Computational Electronics (IWCE), 2015, p.1-4
2015
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2014 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2014, p.93-96
2014
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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.3B.4.1-3B.4.6
2013
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2013 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2013, p.25-28
2013
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2009 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2009, p.355-358
2009
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2009 Proceedings of ESSCIRC, 2009, p.368-371
2009
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2015 11th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2015, p.270-273
2015
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2013 14th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), 2013, p.153-156
2013
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2012 15th International Workshop on Computational Electronics, 2012, p.1-4
2012
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2009-01, Vol.27 (1), p.448-452
2009
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