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IEEE electron device letters, 2009-07, Vol.30 (7), p.706-708
2009
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Nanotechnology, 2012-08, Vol.23 (30), p.305206-305206
2012
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Nanotechnology, 2012-08, Vol.23 (30), p.305206
2012
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.467-471
2007
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Nanotechnology, 2012-08, Vol.23 (30), p.305206-1-7
2012
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 2006-07, Vol.24 (4), p.1243-1248
2006
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2009 International Semiconductor Device Research Symposium, 2009, p.1-2
2009
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2008 8th IEEE Conference on Nanotechnology, 2008, p.522-525
2008
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