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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2020-08, Vol.33 (3), p.331-336
2020
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2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.129-136
2005
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2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.112-120
2005
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Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2012, 2012, p.1-9
2012
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Diode protection of GMR sensors
EOS/ESD Symposium Proceedings, 2011, p.1-11
2011
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2005 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2005, p.1-10
2005
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