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2019
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2011 Asian Test Symposium, 2011, p.232-237
2011
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2014 International Test Conference, 2014, p.1-1
2014
Volltextzugriff (PDF)
2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014, p.1-4
2014
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IBM journal of research and development, 2006-07, Vol.50 (4.5), p.433-449
2006
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Proceedings - International Test Conference, 1997, p.156-165
1997
Volltextzugriff (PDF)
IEEE journal of solid-state circuits, 2015-01, Vol.50 (1), p.10-23
- Fluhr, Eric J.
- Baumgartner, Steve
- Boerstler, David
- Bulzacchelli, John F.
- Diemoz, Timothy
- Dreps, Daniel
- English, George
- Friedrich, Joshua
- Gattiker, Anne
- Gloekler, Tilman
- Gonzalez, Christopher
- Hibbeler, Jason D.
- Jenkins, Keith A.
- Yong Kim
- Muench, Paul
- Nett, Ryan
- Paredes, Jose
- Pille, Juergen
- Plass, Donald
- Restle, Phillip
- Robertazzi, Raphael
- Shan, David
- Siljenberg, David
- Sperling, Michael
- Stawiasz, Kevin
- Still, Gregory
- Toprak-Deniz, Zeynep
- Warnock, James
- Wiedemeier, Glen
- Zyuban, Victor
2015
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2006-02, Vol.19 (1), p.10-18
2006
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29th VLSI Test Symposium, 2011, p.324-327
2011
Volltextzugriff (PDF)
2010 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 2010, p.173-176
2010
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2008 IEEE International Test Conference, 2008, p.1-9
2008
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IEEE journal of solid-state circuits, 2014-01, Vol.49 (1), p.9-18
- Warnock, James
- Yuen Chan
- Harrer, Hubert
- Carey, Sean
- Salem, Gerard
- Malone, Doug
- Puri, Ruchir
- Zitz, Jeffrey A.
- Jatkowski, Adam
- Strevig, Gerald
- Datta, Ayan
- Gattiker, Anne
- Bansal, Aditya
- Mayer, Guenter
- Yiu-Hing Chan
- Mayo, Mark
- Rude, David L.
- Sigal, Leon
- Strach, Thomas
- Smith, Howard H.
- Huajun Wen
- Pak-kin Mak
- Shum, C-L Kevin
- Plass, Donald
- Webb, Charles
2014
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2017 18th IEEE International Conference on Mobile Data Management (MDM), 2017, p.278-285
2017
Volltextzugriff (PDF)
2007 IEEE International Test Conference, 2007, p.1-1
2007
Volltextzugriff (PDF)
2007 IEEE International Electron Devices Meeting, 2007, p.569-571
2007
Volltextzugriff (PDF)
2011 IEEE International Test Conference, 2011, p.1-6
2011
Volltextzugriff (PDF)
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2006, p.87-92
2006
Volltextzugriff (PDF)
2006 IEEE International Test Conference, 2006, p.1-10
2006
Volltextzugriff (PDF)
29th VLSI Test Symposium, 2011, p.90-95
2011
Volltextzugriff (PDF)
Journal of electronic testing, 1997-02, Vol.10 (1-2), p.39-53
1997
Volltextzugriff (PDF)
2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS), 2012, p.74-79
2012
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings International Test Conference 2000 (IEEE Cat. No.00CH37159), 2000, p.454-463
2000
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Procedia computer science, 2013, Vol.18, p.2241-2250
2013
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2003-03, Vol.22 (3), p.370-374
2003
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2013 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers, 2013, p.46-47
2013
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