Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3456-3460
2008
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 2009-02, Vol.56 (1), p.214-219
2009
Volltextzugriff (PDF)
IEEE journal of solid-state circuits, 2009-06, Vol.44 (6), p.1776-1784
2009
Volltextzugriff (PDF)
IEEE journal of solid-state circuits, 2006-08, Vol.41 (8), p.1686-1691
2006
Volltextzugriff (PDF)
IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2005, 2005, p.85-92
2005
Volltextzugriff (PDF)
2002 IEEE Aerospace Conference. Proceedings. Vol. 5, 2002, Vol.5, p.5-5
2002
Volltextzugriff (PDF)
1991 International Workshop on the HOL Theorem Proving System and Its Applications, 1991, p.96-103
1991
Volltextzugriff (PDF)
Computer Hardware Description Languages and Their Applications, 1993, Vol.32, p.123-130
1993
Volltextzugriff (PDF)
2003 IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2003, p.65-76
- O'Bryan, M.V.
- LaBel, K.A.
- Howard, J.W.
- Poivey, C.
- Ladbury, R.L.
- Kniffin, S.D.
- Buchner, S.P.
- Xapsos, M.
- Reed, R.A.
- Sanders, A.B.
- Seidleck, C.M.
- Marshall, C.J.
- Marshall, P.W.
- Titus, J.
- McMorrow, D.
- Li, K.
- Gambles, J.
- Stone, R.F.
- Patterson, J.D.
- Kim, H.S.
- Hawkins, D.K.
- Carts, M.A.
- Forney, J.D.
- Irwin, T.
- Kahric, Z.
- Cox, S.R.
- Palor, C.
2003
Volltextzugriff (PDF)
Tappi journal, 1990-01, Vol.73 (8), p.104-106
1990
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Circuits
- Nasa
- Applied Sciences
- Digital Circuits
- Engineering, Aerospace
- Exact Sciences And Technology
- Microelectronics
- Nuclear Science & Technology
- Radiation Hardening
- Single Event Upset
- Space Technology
- Aerospace Electronics
- Circuit Properties
- Circuit Testing
- Coders
- Costs
Kollektion
Zeitschrift / Serie