Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Boolean and current detection of MOS transistor with gate oxide short
Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260), 2001, p.1039-1048
2001
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A compact DC model of gate oxide short defect
Microelectronic engineering, 2004-04, Vol.72 (1), p.140-148
2004
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Influence of gate oxide short defects on the stability of minimal sized SRAM core-cell by applying non-split models
2009 4th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era, 2009, p.225-229
2009
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Modeling gate oxide short defects in CMOS minimum transistors
Proceedings The Seventh IEEE European Test Workshop, 2002, p.15-20
2002
Volltextzugriff (PDF)
1 – 4 von 4
Suche als RSS-Feed
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen