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Generic simulator for faulty IC
Microelectronics and reliability, 2008-08, Vol.48 (8), p.1592-1596
2008
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2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2007, p.1-5
2007
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Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe, 2007, p.989-993
2007
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 16-20 Apr. 2007, 2007, p.989-993
2007
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2007 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2007, p.229-234
2007
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2006 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2006, p.320-326
2006
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New astronomy reviews, 2021-12, Vol.93, p.101629, Article 101629
2021
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