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- Planes, N.
- Weber, O.
- Barral, V.
- Haendler, S.
- Noblet, D.
- Croain, D.
- Bocat, M.
- Sassoulas, P.
- Federspiel, X.
- Cros, A.
- Bajolet, A.
- Richard, E.
- Dumont, B.
- Perreau, P.
- Petit, D.
- Golanski, D.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Guillot, N.
- Rafik, M.
- Huard, V.
- Puget, S.
- Montagner, X.
- Jaud, M.
- Rozeau, O.
- Saxod, O.
- Wacquant, F.
- Monsieur, F.
- Barge, D.
- Pinzelli, L.
- Mellier, M.
- Boeuf, F.
- Arnaud, F.
- Haond, M.
2012
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Electronics letters, 2013-03, Vol.49 (7), p.490-492
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2021-07, Vol.68 (7), p.3142-3148
- Fenouillet-Beranger, C.
- Brunet, L.
- Batude, P.
- Brevard, L.
- Garros, X.
- Casse, M.
- Lacord, J.
- Sklenard, B.
- Acosta-Alba, P.
- Kerdiles, S.
- Tavernier, A.
- Vizioz, C.
- Besson, P.
- Gassilloud, R.
- Pedini, J.-M.
- Kanyandekwe, J.
- Mazen, F.
- Magalhaes-Lucas, A.
- Cavalcante, C.
- Bosch, D.
- Ribotta, M.
- Lapras, V.
- Vinet, M.
- Andrieu, F.
- Arcamone, J.
2021
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IEEE transactions on electron devices, 2008-01, Vol.55 (1), p.96-130
2008
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Applied physics letters, 2006-12, Vol.89 (25), p.253511-253511-3
2006
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IEEE electron device letters, 2012-03, Vol.33 (3), p.348-350
2012
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Solid-state electronics, 2004-06, Vol.48 (6), p.961-967
2004
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.332-333
2022
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T48-T49
- Batude, P.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Pasini, L.
- Lu, V.
- Deprat, F.
- Brunet, L.
- Sklenard, B.
- Piegas-Luce, F.
- Casse, M.
- Mathieu, B.
- Billoint, O.
- Cibrario, G.
- Turkyilmaz, O.
- Sarhan, H.
- Thuries, S.
- Hutin, L.
- Sollier, S.
- Widiez, J.
- Hortemel, L.
- Tabone, C.
- Samson, M.-P
- Previtali, B.
- Rambal, N.
- Ponthenier, F.
- Mazurier, J.
- Beneyton, R.
- Bidaud, M.
- Josse, E.
- Petitprez, E.
- Rozeau, O.
- Rivoire, M.
- Euvard-Colnat, C.
- Seignard, A.
- Fournel, F.
- Benaissa, L.
- Coudrain, P.
- Leduc, P.
- Hartmann, J.-M
- Besson, P.
- Kerdiles, S.
- Bout, C.
- Nemouchi, F.
- Royer, A.
- Agraffeil, C.
- Ghibaudo, G.
- Signamarcheix, T.
- Haond, M.
- Clermidy, F.
- Faynot, O.
- Vinet, M.
2015
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Journal of applied physics, 2013-04, Vol.113 (14)
2013
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Solid-state electronics, 2015-11, Vol.113, p.2-8
2015
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.36.5.1-36.5.4
2020
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Solid-state electronics, 2009-07, Vol.53 (7), p.730-734
- Fenouillet-Beranger, C.
- Denorme, S.
- Perreau, P.
- Buj, C.
- Faynot, O.
- Andrieu, F.
- Tosti, L.
- Barnola, S.
- Salvetat, T.
- Garros, X.
- Cassé, M.
- Allain, F.
- Loubet, N.
- Pham-Nguyen, L.
- Deloffre, E.
- Gros-Jean, M.
- Beneyton, R.
- Laviron, C.
- Marin, M.
- Leyris, C.
- Haendler, S.
- Leverd, F.
- Gouraud, P.
- Scheiblin, P.
- Clement, L.
- Pantel, R.
- Deleonibus, S.
- Skotnicki, T.
2009
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-5
2021
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
2020
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Brunet, L.
- Batude, P.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Besombes, P.
- Hortemel, L.
- Ponthenier, F.
- Previtali, B.
- Tabone, C.
- Royer, A.
- Agraffeil, C.
- Euvrard-Colnat, C.
- Seignard, A.
- Morales, C.
- Fournel, F.
- Benaissa, L.
- Signamarcheix, T.
- Besson, P.
- Jourdan, M.
- Kachtouli, R.
- Benevent, V.
- Hartmann, J.-M
- Comboroure, C.
- Allouti, N.
- Posseme, N.
- Vizioz, C.
- Arvet, C.
- Barnola, S.
- Kerdiles, S.
- Baud, L.
- Pasini, L.
- Lu, C.-M V.
- Deprat, F.
- Toffoli, A.
- Romano, G.
- Guedj, C.
- Delaye, V.
- Boeuf, F.
- Faynot, O.
- Vinet, M.
2016
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Solid-state electronics, 2010-09, Vol.54 (9), p.849-854
- Fenouillet-Beranger, C.
- Perreau, P.
- Denorme, S.
- Tosti, L.
- Andrieu, F.
- Weber, O.
- Monfray, S.
- Barnola, S.
- Arvet, C.
- Campidelli, Y.
- Haendler, S.
- Beneyton, R.
- Perrot, C.
- de Buttet, C.
- Gros, P.
- Pham-Nguyen, L.
- Leverd, F.
- Gouraud, P.
- Abbate, F.
- Baron, F.
- Torres, A.
- Laviron, C.
- Pinzelli, L.
- Vetier, J.
- Borowiak, C.
- Margain, A.
- Delprat, D.
- Boedt, F.
- Bourdelle, K.
- Nguyen, B.-Y.
- Faynot, O.
- Skotnicki, T.
2010
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Solid-state electronics, 2010-02, Vol.54 (2), p.123-130
2010
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Fenouillet-Beranger, C.
- Brunet, L.
- Batude, P.
- Brevard, L.
- Garros, X.
- Frutuoso, T. Mota
- Casse, M.
- Lugo, J.
- Lacord, J.
- Bosch, D.
- Bernard, N.
- Magalhaes-Lucas, A.
- Ribotta, M.
- Sklenard, B.
- Milesi, F.
- Kies, R.
- Romano, G.
- Acosta-Alba, P.
- Kerdiles, S.
- Tavernier, A.
- Vizioz, C.
- Besson, P.
- Gassilloud, R.
- Kanyandekwe, J.
- Cooper, D.
- Lapras, V.
- Kim, W. H.
- Sasaki, Y.
- Oh, S.
- Kang, P.
- Lee, S. W.
- Na, H.
- Arcamone, J.
- Andrieu, F.
2020
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2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2015, p.1192-1196
2015
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Solid-state electronics, 2013-10, Vol.88, p.15-20
- Fenouillet-Beranger, C.
- Perreau, P.
- Benoist, T.
- Richier, C.
- Haendler, S.
- Pradelle, J.
- Bustos, J.
- Brun, P.
- Tosti, L.
- Weber, O.
- Andrieu, F.
- Orlando, B.
- Pellissier-Tanon, D.
- Abbate, F.
- Richard, C.
- Beneyton, R.
- Gregoire, M.
- Ducote, J.
- Gouraud, P.
- Margain, A.
- Borowiak, C.
- Bianchini, R.
- Planes, N.
- Gourvest, E.
- Bourdelle, K.K.
- Nguyen, B.Y.
- Poiroux, T.
- Skotnicki, T.
- Faynot, O.
- Boeuf, F.
2013
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Microelectronic engineering, 2005-06, Vol.80, p.241-244
2005
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2010 Symposium on VLSI Technology, 2010, p.65-66
2010
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Solid-state electronics, 2010-02, Vol.54 (2), p.90-96
2010
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Solid-state electronics, 2006-04, Vol.50 (4), p.637-643
2006
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