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Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2004-12, Vol.114, p.166-173
2004
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2006-01, Vol.24 (1), p.414-420
2006
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.255-260
2007
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Applied physics letters, 2006-10, Vol.89 (15), p.151123-151123-3
2006
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.246-250
2007
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Measurement techniques, 2000-05, Vol.43 (5), p.422-424
2000
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MRS proceedings, 2006, Vol.945, Article 0945-FF06-10
2006
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2006-01, Vol.24 (1), p.414-420
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2007-09, Vol.25 (5), p.1588-1592
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Soviet journal of quantum electronics, 1987-05, Vol.17 (5), p.695-696
1987
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Soviet journal of quantum electronics, 1988-12, Vol.18 (12), p.1572-1574
1988
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2018 International Conference on Industrial Engineering, Applications and Manufacturing (ICIEAM), 2018, p.1-5
2018
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2007 International Workshop on Junction Technology, 2007, p.43-46
2007
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