Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microelectronics and reliability, 2022-09, Vol.136, p.114669-10, Article 114669
2022
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.298-301
2020
Volltextzugriff (PDF)
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, p.298-301
2020
Volltextzugriff (PDF)
Journal of electronic testing, 2014-04, Vol.30 (2), p.183-192
2014
Volltextzugriff (PDF)
Journal of electronic testing, 2013-08, Vol.29 (4), p.601-608
2013
Volltextzugriff (PDF)
29th VLSI Test Symposium, 2011, p.140-145
2011
Volltextzugriff (PDF)
Scan design with shadow flip-flops for low performance overhead and concurrent delay fault detection
2013
Volltextzugriff (PDF)
EURASIP Journal on Embedded Systems, 2006, Vol.2006, p.1-12
2006
Volltextzugriff (PDF)
EURASIP journal on embedded systems, 2006-10, Vol.2006 (1), p.63656-063656
2006
Volltextzugriff (PDF)
2009 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2009, p.1222-1225
2009
Volltextzugriff (PDF)
EURASIP journal on embedded systems, 2006, Vol.2006
2006
Volltextzugriff (PDF)
2013 18th IEEE European Test Symposium (ETS), 2013, p.1-6
2013
Volltextzugriff (PDF)
2011 IEEE 17th International On-Line Testing Symposium, 2011, p.198-201
2011
Volltextzugriff (PDF)
First International Symposium on Networks-on-Chip (NOCS'07), 2007, p.223-232
2007
Volltextzugriff (PDF)
2015 IEEE 10th Conference on Industrial Electronics and Applications (ICIEA), 2015, p.1761-1765
2015
Volltextzugriff (PDF)
IEEE Workshop on Signal Processing Systems Design and Implementation, 2005, 2005, p.166-171
2005
Volltextzugriff (PDF)
2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS), 2012, p.1-6
2012
Volltextzugriff (PDF)
2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2014, p.160-163
2014
Volltextzugriff (PDF)
Scan design with shadow flip-flops for low performance overhead and concurrent delay fault detection
2013
Volltextzugriff (PDF)
2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS), 2014, p.1-6
2014
Volltextzugriff (PDF)
2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, 2010, p.147-153
2010
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2009, p.1222-1225
2009
Volltextzugriff (PDF)
Great Lakes Symposium on VLSI: Proceedings of the 17th great lakes symposium on Great lakes symposium on VLSI; 11-13 Mar. 2007, 2007, p.457-460
2007
Volltextzugriff (PDF)
2006 IEEE Workshop on Signal Processing Systems Design and Implementation, 2006, p.238-243
2006
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings Norchip Conference, 2004, 2004, p.218-221
2004
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Computer Science
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Computer Science, Hardware & Architecture
- Error Correction
- Engineering Sciences
- Error Correction Codes
- Network-On-A-Chip
- Clocks
- Design Automation
- Ecc
- Monitoring
- Reliability
- Automation & Control Systems
- Dec
- Decoding
- Hardware
- Memory Management
Kollektion
- IEEE Electronic Library (IEL)
- IngentaConnect
- ACM Digital Library Complete
- EZB-FREE-00999 freely available EZB journals
- Journals@Ovid
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- Springer Journals
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- IngentaConnect Journals
- SpringerLINK Contemporary (Konsortium Baden-Württemberg)
- Wiley Online Library
- MEDLINE
- Wiley Online Library Full Collection 2018