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2022
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Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.228-230
2022
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Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.234-234
2022
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Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.276-276
2022
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Microscopy and microanalysis, 2021-08, Vol.27 (S1), p.1230-1230
2021
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2019-08, Vol.75 (a2), p.e28-e28
2019
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2019-08, Vol.75 (a2), p.e632-e632
2019
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2021-08, Vol.77 (a2), p.C233-C233
2021
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2023-07, Vol.79 (a1), p.a241-a241
2023
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E-journal of Nondestructive Testing, 2024-03, Vol.29 (3)
2024
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2017-12, Vol.73 (a2), p.C687-C687
2017
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2017-12, Vol.73 (a2), p.C996-C996
2017
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2018 29th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2018, p.151-154
2018
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2018-07, Vol.74 (a1), p.a350-a350
2018
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2016-08, Vol.72 (a1), p.s178-s179
2016
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2015-08, Vol.71 (a1), p.s499-s499
2015
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Procedia CIRP, 2015, Vol.33, p.299-304
2015
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2014-08, Vol.70 (a1), p.C1738-C1738
2014
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