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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microelectronics and reliability, 2002-09, Vol.42 (9), p.1275-1280
2002
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.285-303
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.169-191
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.304-324
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.11-32
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.125-143
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.271-284
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.252-270
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.79-103
1, 2020
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Nordic Elites In Transformation, c. 1050-1250, volume II: Social Networks, 2020, p.33-53
1, 2020
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Nordic Elites In Transformation, c. 1050-1250, volume II: Social Networks, 2020, p.54-75
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.192-211
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.104-124
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c 1050–1250, Vol II / edited by Kim Esmark, Lars Hermanson, and Hans Jacob Orning, 2020, p.215-236
1, 2020
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Nordic Elites in Transformation, c. 1050-1250, Volume II, 2020, p.325-345
1, 2020
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IEEE transactions on electron devices, 2011-02, Vol.58 (2), p.411-418
2011
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IEEE transactions on electron devices, 2002-11, Vol.49 (11), p.2070-2079
2002
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2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2009, Vol.49 (12), p.6A.1-1-6A.1-10
2009
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IEEE transactions on electron devices, 2011, Vol.58 (2), p.411-418
2011
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Microelectronics and reliability, 2001-11, Vol.41 (11), p.1761-1770
2001
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Microelectronics and reliability, 2005-02, Vol.45 (2), p.297-304
2005
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Microelectronics and reliability, 2000-08, Vol.40 (8-10), p.1365-1370
2000
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Microelectronics and reliability, 2005-02, Vol.45 (2), p.313-321
2005
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Microelectronics and reliability, 2003-07, Vol.43 (7), p.1001-1010
2003
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Microelectronics and reliability, 2005-02, Vol.45 (2), p.269-277
2005
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