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2020
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Applied physics letters, 2005-04, Vol.86 (14)
2005
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Journal of applied physics, 2004-01, Vol.95 (2), p.512-519
2004
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Journal of applied physics, 2004-10, Vol.96 (8), p.4588-4597
2004
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Applied physics letters, 2008-03, Vol.92 (13)
2008
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Quantum electronics (Woodbury, N.Y.), 2009-05, Vol.39 (5), p.481-486
2009
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Applied physics letters, 2004-11, Vol.85 (22), p.5236-5238
2004
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IEEE transactions on electron devices, 2005-03, Vol.52 (3), p.413-418
2005
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Journal of applied physics, 2003-02, Vol.93 (4), p.1879-1883
2003
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Applied physics letters, 2004-05, Vol.84 (18), p.3435-3437
2004
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Materials research express, 2020-12, Vol.7 (12), p.125903
2020
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Thin solid films, 1992-12, Vol.221 (1-2), p.160-165
1992
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Optoelectronics, instrumentation, and data processing, 2015-03, Vol.51 (2), p.198-204
2015
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Applied physics letters, 2008-04, Vol.92 (13), p.131116-131116-3
2008
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Applied physics letters, 2008-03, Vol.92 (13)
2008
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2001-04, Vol.35 (4), p.459-463
2001
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Journal of optical technology, 2014-03, Vol.81 (3), p.139
2014
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Optoelectronics, instrumentation, and data processing, 2011-10, Vol.47 (5), p.508-512
2011
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Journal of optical technology, 2009-12, Vol.76 (12), p.739
2009
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2000-01, Vol.34 (10), p.1219-1223
2000
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Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering, 2023-09, Vol.26 (3)
2023
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2001-07, Vol.35 (7), p.800-806
2001
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Optoelectronics, instrumentation, and data processing, 2007-08, Vol.43 (4), p.370-374
2007
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 1999-08, Vol.33 (8), p.915-919
1999
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 1999-05, Vol.33 (5), p.574-577
1999
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