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Response compaction with any number of unknowns using a new LFSR architecture
Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 42nd annual conference on Design automation; 13-17 June 2005, 2005, p.117-122
2005
Open Access
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Packet-based input test data compression techniques
Proceedings - International Test Conference, 2002, p.154-163
2002
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VLSI Test Principles and Architectures
2006
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Modern Test Techniques: Tradeoffs, Synergies, and Scalable Benefits
Journal of electronic testing, 2003-04, Vol.19 (2), p.125
2003
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Tackling test trade-offs from design, manufacturing to market using economic modeling
Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260), 2001, p.1098-1107
2001
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Design -for -testability for test data compression
2004
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Atpg padding and ate vector repeat per port for reducing test data volume
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.1069-1078
2003
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