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2008
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2011-07, Vol.645 (1), p.68-73
2011
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IEEE transactions on electron devices, 2004-02, Vol.51 (2), p.288-292
2004
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Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 2020-05, Vol.241, p.146836, Article 146836
2020
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Surface and interface analysis, 2017-01, Vol.49 (1), p.34-46
2017
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2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC), 2021, p.1-2
2021
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2011-07, Vol.645 (1), p.257-259
2011
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1208-1209
2012
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Microelectronic engineering, 2010-05, Vol.87 (5), p.1491-1493
2010
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Microelectronic engineering, 2007, Vol.84 (1), p.95-100
2007
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Microelectronics and reliability, 2006-07, Vol.46 (7), p.1209-1213
2006
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Journal of microscopy (Oxford), 2010-09, Vol.239 (3), p.215-222
2010
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2018 31st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC), 2018, p.1-2
2018
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Ultramicroscopy, 1999-09, Vol.79 (1), p.135-140
1999
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2000
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Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 1997-05, Vol.85 (3), p.205-219
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Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 1995-10, Vol.74 (2), p.109-120
1995
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Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 1990, Vol.52, p.197-219
1990
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Surface science, 1983, Vol.124 (1), p.26-38
1983
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Applied surface science, 1988-10, Vol.35 (1), p.164-172
1988
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Applied surface science, 1988-07, Vol.32 (3), p.320-331
1988
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Eleventh International Vacuum Microelectronics Conference. IVMC'98 (Cat. No.98TH8382), 1998, p.30-31
1998
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Eleventh International Vacuum Microelectronics Conference. IVMC'98 (Cat. No.98TH8382), 1998, p.90-91
1998
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Applied surface science, 1988-11, Vol.35 (2), p.177-185
1988
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Surface science, 1978-04, Vol.72 (3), p.485-494
1978
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