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ITC 2018 Welcome Message
2018 IEEE International Test Conference (ITC), 2018, p.1-1
2018
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IEEE International Conference on Test, 2005, 2005, p.7 pp.-179
2005
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2009 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2009, p.392-400
2009
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2004 International Conferce on Test, 2004, p.704-710
2004
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IEEE 1149.6 - a practical perspective
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.494-502
2003
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2004 International Conferce on Test, 2004, p.525-533
2004
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Proceedings - International Test Conference, 2002, p.1056-1065
2002
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Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2004, Vol.2, p.1184-1189 Vol.2
2004
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IEEE 1149.6 - a practical perspective
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.2, p.70-78 Vol.2
2003
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IEEE design & test of computers, 2003-09, Vol.20 (5), p.76-83
2003
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