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2011
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Journal of applied physics, 2013-06, Vol.113 (24), p.244904-244904
2013
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Surface & coatings technology, 2010-03, Vol.204 (12), p.2055-2059
2010
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Microelectronic engineering, 2012-09, Vol.97, p.276-279
2012
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Microelectronic engineering, 2001-05, Vol.56 (1), p.195-203
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Applied surface science, 2004-03, Vol.224 (1), p.297-305
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Thin solid films, 2000-07, Vol.369 (1-2), p.342-346
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Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2002, p.162-166
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Digest. International Electron Devices Meeting, 2002, p.775-778
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 1993-03, Vol.326 (1), p.3-9
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2008 IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, 2008, p.58-61
2008
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Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005. ESSDERC 2005, 2005, p.481-484
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2011 IEEE 11th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, 2011, p.57-60
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Surface and interface analysis, 1995-10, Vol.23 (11), p.764-770
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2010 International Electron Devices Meeting, 2010, p.36.5.1-36.5.4
2010
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International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138), 2000, p.471-474
2000
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Physica status solidi. A, Applied research, 1975-03, Vol.28 (1), p.K53-K56
1975
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Solid state phenomena, 1993-12, Vol.32-33, p.353-358
1993
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