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Radiation damage to organic and inorganic specimens in the TEM
Micron (Oxford, England : 1993), 2019-04, Vol.119, p.72-87
2019
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Mechanisms of radiation damage in beam-sensitive specimens, for TEM accelerating voltages between 10 and 300 kV
Microscopy research and technique, 2012-11, Vol.75 (11), p.1550-1556
2012
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Choice of operating voltage for a transmission electron microscope
Ultramicroscopy, 2014-10, Vol.145, p.85-93
2014
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Scattering delocalization and radiation damage in STEM-EELS
Ultramicroscopy, 2017-09, Vol.180, p.115-124
2017
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Limits to the spatial, energy and momentum resolution of electron energy-loss spectroscopy
Ultramicroscopy, 2007-08, Vol.107 (8), p.575-586
2007
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Beam-Induced Motion of Adatoms in the Transmission Electron Microscope
Microscopy and microanalysis, 2013-04, Vol.19 (2), p.479-486
2013
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Delocalized radiation damage in polymers
Micron (Oxford, England : 1993), 2012, Vol.43 (1), p.2-7
2012
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Second edition., 2016
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Validity of the dipole approximation in TEM-EELS studies
Microscopy research and technique, 2014-10, Vol.77 (10), p.773-778
2014
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Atomic imaging using secondary electrons in a scanning transmission electron microscope: Experimental observations and possible mechanisms
Ultramicroscopy, 2011-06, Vol.111 (7), p.865-876
2011
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Control of radiation damage in the TEM
Ultramicroscopy, 2013-04, Vol.127, p.100-108
2013
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  • BibTeX
Dose measurement in the TEM and STEM
Ultramicroscopy, 2021-10, Vol.229, p.113363-113363, Article 113363
2021
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Voxel dose-limited resolution for thick beam-sensitive specimens imaged in a TEM or STEM
Micron (Oxford, England : 1993), 2024-02, Vol.177, p.103576-103576, Article 103576
2024
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  • BibTeX
Spatial resolution in transmission electron microscopy
Micron (Oxford, England : 1993), 2022-09, Vol.160, p.103304-103304, Article 103304
2022
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  • BibTeX
Vibrational-loss EELS and the avoidance of radiation damage
Ultramicroscopy, 2015-12, Vol.159, p.95-100
2015
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  • BibTeX
Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
Third edition., 2011
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  • BibTeX
Transmission electron microscopy of thick polymer and biological specimens
Micron (Oxford, England : 1993), 2023-06, Vol.169, p.103449-103449, Article 103449
2023
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  • BibTeX
Characterization of single-atom catalysts by EELS and EDX spectroscopy
Ultramicroscopy, 2018-10, Vol.193, p.111-117
2018
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  • BibTeX
Basic questions related to electron-induced sputtering in the TEM
Ultramicroscopy, 2010-07, Vol.110 (8), p.991-997
2010
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  • BibTeX
Fundamental limit to single-atom analysis by STEM-EDX spectroscopy
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.380-381
2017
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  • BibTeX
Damage in electron cryomicroscopy: Lessons from biology for materials science
MRS bulletin, 2019-12, Vol.44 (12), p.935-941
2019
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  • BibTeX
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
1. Aufl., 2005
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  • BibTeX
Radiation damage in the TEM and SEM
Micron (Oxford, England : 1993), 2004-01, Vol.35 (6), p.399-409
2004
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  • BibTeX
Exploiting the Dose-Rate Dependence of Radiolysis – a Future for Cryo-STEM ?
Microscopy and microanalysis, 2019-08, Vol.25 (S2), p.992-993
2019
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  • BibTeX
Strategies for Obtaining High Spatial Resolution in Imaging and Spectroscopy of Beam-sensitive TEM Specimens
Microscopy and microanalysis, 2016-07, Vol.22 (S3), p.302-303
2016
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