Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Investigation of the Propagation Induced Pulse Broadening (PIPB) Effect on Single Event Transients in SOI and Bulk Inverter Chains
IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.2842-2853
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Investigation of Single-Event Transients in Linear Voltage Regulators
IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3352-3359
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A New Technique for SET Pulse Width Measurement in Chains of Inverters Using Pulsed Laser Irradiation
IEEE transactions on nuclear science, 2009-08, Vol.56 (4), p.2014-2020
2009
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Application of various optical techniques for ESD defect localization
Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1563-1568
2006
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies
Microelectronics and reliability, 2008-08, Vol.48 (8), p.1333-1338
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Investigation of a new method for dopant characterization
Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1599-1603
2007
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1415-1420
2005
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Study of the ESD defects impact on ICs reliability
Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1811-1815
2004
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A new technique for SET pulse width measurement in chains of inverters using pulsed laser irradiation
2008 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2008, p.169-174
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Best test pattern failure analysis flow for functional logic failure localization by IR-OBIRCH technique
2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009, p.191-194
2009
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Optimizing Pulsed OBIC Technique for ESD Defect Localization
IEEE transactions on device and materials reliability, 2007-12, Vol.7 (4), p.617-624
2007
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure
2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2008, p.1-5
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
2006 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2006, p.270-275
2006
Volltextzugriff (PDF)
1 – 13 von 13
Suche als RSS-Feed
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen