Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Thin solid films, 2000-12, Vol.380 (1), p.151-153
2000
Volltextzugriff (PDF)
Journal of research in science teaching, 2003-09, Vol.40 (7), p.692-720
2003
Volltextzugriff (PDF)
Epitaxially grown Si/SiGe interband tunneling diodes with high room-temperature peak-to-valley ratio
2000
Volltextzugriff (PDF)
Thin solid films, 2000-07, Vol.369 (1-2), p.33-38
2000
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2007-04, Vol.47 (4), p.497-500
2007
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1520-1525
2005
Volltextzugriff (PDF)
Electronics letters, 1999-06, Vol.35 (13), p.1111-1112
1999
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2001-05, Vol.22 (5), p.215-217
2001
Volltextzugriff (PDF)
Journal of crystal growth, 2001-07, Vol.227, p.770-776
2001
Volltextzugriff (PDF)
Journal of applied physics, 2004-10, Vol.96 (7), p.3848-3851
2004
Volltextzugriff (PDF)
Applied physics letters, 1999-02, Vol.74 (8), p.1150-1152
1999
Volltextzugriff (PDF)
Science education (Salem, Mass.), 2000-11, Vol.84 (6), p.757-792
2000
Volltextzugriff (PDF)
Thin solid films, 1998-12, Vol.336 (1-2), p.336-339
1998
Volltextzugriff (PDF)
Enseñanza de las ciencias, 2008-03, Vol.16 (1), p.3-20
2008
Volltextzugriff (PDF)
2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.632-633
2005
Volltextzugriff (PDF)
International journal of science education, 2005, Vol.27 (13), p.1571-1594
2005
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2005-12, Vol.45 (12), p.1861-1867
2005
Volltextzugriff (PDF)
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings, 2004, p.585-586
2004
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings / International Symposium on Multiple-Valued Logic, 2001, p.49-58
2001
Volltextzugriff (PDF)
2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.217-220
2007
Volltextzugriff (PDF)
International journal of science education, 1993-01, Vol.15 (1), p.61-72
1993
Volltextzugriff (PDF)
Voltage acceleration of oxide breakdown in the sub-10 nm Fowler-Nordheim and direct tunneling regime
2005
Volltextzugriff (PDF)
Students' Understanding of the Objectives and Procedures of Experimentation in the Science Classroom
1995
Volltextzugriff (PDF)
Thin solid films, 1998-12, Vol.336 (1-2), p.336-339
1998
Volltextzugriff (PDF)
Physica. E, Low-dimensional systems & nanostructures, 2000-05, Vol.7 (3-4), p.836-839
2000
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Physical Sciences
- Physics
- Technology
- Astronomy & Astrophysics
- Exact Sciences And Technology
- Life Sciences & Biomedicine
- Physics, Applied
- Social Sciences
- Education & Educational Research
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Humans
- Astronomy
- Science & Technology - Other Topics
- Accretion Disks
- Earth, Ocean, Space
- Galaxy: Center
- Nanoscience & Nanotechnology
- Animals
Kollektion
- IngentaConnect Journals
- EZB Electronic Journals Library
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- NUS Single-Journal Subscriptions
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- SpringerLink Journals - AutoHoldings
- MEDLINE
- Wiley Online Library Journals Frontfile Complete
- IEEE Electronic Library (IEL)
- Wiley Online Library Full Collection 2018
- IngentaConnect Journals
- Taylor & Francis Current Content Access
- ERIC
- Taylor & Francis:Master (3349 titles)
- WK Lippincott Williams & Wilkins–Connect here FIRST to enable access
- Taylor & Francis Journals Auto-Holdings Collection
- eBooks on EBSCOhost
- Ebook Central Perpetual and DDA
- Scitation (American Institute of Physics)
- SpringerLINK Contemporary (Konsortium Baden-Württemberg)
Zeitschrift / Serie