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- Yin, Xiaogen
- Yang, H.
- Xie, L.
- Ai, X. Z.
- Zhang, Y. B.
- Jia, K. P.
- Wu, Z. H.
- Ma, X. L.
- Zhang, Q. Z.
- Mao, S. J.
- Xiang, J. J.
- Zhang, Yongkui
- Gao, J. F.
- He, X. B.
- Bai, G. B.
- Lu, Y. H.
- Zhou, N.
- Kong, Z. Z.
- Zhang, Y.
- Zhao, J.
- Ma, S. S.
- Xuan, Z. H.
- Zhu, Huilong
- Li, Y. Y.
- Li, L.
- Zhang, Q. H.
- Han, J. H.
- Chen, R. L.
- Qu, Y.
- Yang, T.
- Luo, J.
- Li, J. F.
- Yin, H. X.
- Wang, G. L.
- Radamson, H.
- Zhao, C.
- Wang, W. W.
- Ye, T. C.
- Li, J. J.
- Du, A.Y.
- Li, C.
- Zhao, L. H.
- Huang, W. X.
2020
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Effect of surface NH3 anneal on the physical and electrical properties of HfO2 films on Ge substrate
2004
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IEEE transactions on electron devices, 2021-06, Vol.68 (6), p.2604-2610
- Zhang, Yongkui
- Ai, Xuezheng
- Yin, Xiaogen
- Zhu, Huilong
- Yang, H.
- Wang, G. L.
- Li, J. J.
- Du, A. Y.
- Li, C.
- Huang, W. X.
- Xie, L.
- Li, Y. Y.
- Liu, Y. B.
- Zhang, Y. B.
- Jia, K. P.
- Wu, Z. H.
- Ma, X. L.
- Zhang, Q. Z.
- Mao, S. J.
- Xu, G. B.
- Xiang, J. J.
- Gao, J. F.
- He, X. B.
- Lu, Y. H.
- Bai, G. B.
- Zhao, J.
- Li, Y. L.
- Yang, T.
- Li, J. F.
- Yin, H. X.
- Radamson, H.
- Luo, J.
- Zhao, C.
- Wang, W. W.
- Ye, T. C.
2021
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Journal of physics. Conference series, 2021-02, Vol.1812 (1), p.12040
2021
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IEEE transactions on electron devices, 2023-03, Vol.70 (3), p.1-6
2023
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IEEE electron device letters, 2022-08, Vol.43 (8), p.1183-1186
2022
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IEEE electron device letters, 2003-04, Vol.24 (4), p.230-232
2003
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Thin solid films, 2006-05, Vol.504 (1), p.248-251
2006
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Physical review letters, 2008-04, Vol.100 (13), p.136101-136101, Article 136101
2008
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.P37-1-P37-4
2022
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Microelectronic engineering, 2005, Vol.77 (1), p.63-70
2005
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Applied physics letters, 2006-03, Vol.88 (12), p.122114-122114-3
2006
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The European physical journal. B, Condensed matter physics, 2007-06, Vol.57 (3), p.229-234
2007
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IEEE transactions on electron devices, 2012-04, Vol.59 (4), p.1203-1208
2012
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Journal of applied physics, 2003-04, Vol.93 (8), p.4788-4793
2003
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IEEE electron device letters, 2008-01, Vol.29 (1), p.50-53
2008
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TheScientificWorld, 2013-01, Vol.2013 (2013), p.1-10
2013
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IEEE transactions on magnetics, 2006-10, Vol.42 (10), p.2691-2693
2006
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Thin solid films, 2004-09, Vol.462 (Complete), p.46-50
2004
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IEEE electron device letters, 2011-03, Vol.32 (3), p.396-398
2011
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IEEE electron device letters, 2006-10, Vol.27 (10), p.811-813
2006
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IEEE electron device letters, 2004-10, Vol.25 (10), p.681-683
2004
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IEEE electron device letters, 2006-10, Vol.27 (10), p.824-826
2006
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2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.632-633
2007
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