Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Ultrafast Measurement on NBTI
IEEE electron device letters, 2009-03, Vol.30 (3), p.275-277
2009


IEEE electron device letters, 2009-07, Vol.30 (7), p.751-753
2009


2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, p.1002-1004
2009

2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008, p.743-744
2008

2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008, p.737-738
2008

2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008, p.735-736
2008

2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.688-689
2007

IEEE transactions on device and materials reliability, 2008-03, Vol.8 (1), p.22-34
2008

South African journal of plant and soil, 2007-01, Vol.24 (2), p.120-123
2007
Link zum Volltext

2007 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2007, p.96-99
2007



South African medical journal, 1982-09, Vol.62 (13), p.454-456
1982
Link zum Volltext










Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen
Erscheinungsjahr
n.n
n.n