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2020
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IEEE access, 2022, Vol.10, p.31359-31376
2022
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IET biometrics, 2023-03, Vol.12 (2), p.112-128
- Busch, Christoph
- Deravi, Farzin
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- Seidel, Uwe
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- Strand, Brage
- Toivonen, Sirra
- Uhl, Andreas
2023
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IEEE technology & society magazine, 2022-12, Vol.41 (4), p.71-82
2022
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