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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1991-07, Vol.10 (7), p.895-903
1991
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1986-01, Vol.5 (1), p.104-113
1986
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1989-03, Vol.8 (3), p.279-287
1989
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Proceedings of the IEEE, 1998-02, Vol.86 (2), p.460-462
1998
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Statistical integrated circuit design
IEEE journal of solid-state circuits, 1993-03, Vol.28 (3), p.193-202
1993
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1995-12, Vol.14 (12), p.1557-1568
1995
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Scanning the issue
Proceedings of the IEEE, 1981-10, Vol.69 (10), p.1187-1188
1981
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Scanning the issue
Proceedings of the IEEE, 1981-10, Vol.69 (10), p.1187-1188
1981
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Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition 2000 (Cat. No. PR00537), 2000, p.754
2000
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1993-12, Vol.12 (12), p.1868-1879
1993
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1996-10, Vol.15 (10), p.1197-1210
1996
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1986-10, Vol.5 (4), p.541-556
1986
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1991-06, Vol.10 (6), p.698-713
1991
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1995-10, Vol.14 (10), p.1257-1267
1995
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Optimization of parametric yield
[Proceedings] 1991 International Workshop on Defect and Fault Tolerance on VLSI Systems, 1991, p.1-18
1991
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1989-12, Vol.8 (12), p.1299-1313
1989
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Proceedings 1999 Design Automation Conference (Cat. No. 99CH36361), 1999, p.529-534
1999
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1989-08, Vol.2 (3), p.104-113
1989
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1986-01, Vol.5 (1), p.114-130
1986
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Proceedings 1998 Design and Automation Conference. 35th DAC. (Cat. No.98CH36175), 1998, p.134-139
1998
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1992 Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 1992, p.3.1.1-3.1.8
1992
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1991-02, Vol.10 (2), p.171-183
1991
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Computer aided design, 1978-05, Vol.10 (3), p.208
1978
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Proceedings of European Design and Test Conference EDAC-ETC-EUROASIC, 1994, p.567-571
1994
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