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Journal of microelectronics and electronic packaging, 2021-01, Vol.18 (1), p.1-6
2021
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Transactions of the Indian Institute of Metals, 2021-05, Vol.74 (5), p.1231-1239
2021
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Journal of materials science, 2008-12, Vol.43 (23-24), p.7481-7487
2008
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Electromigration in Power Devices
International Symposium on Microelectronics, 2020-10, Vol.2020 (1), p.78-84
2020
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Philosophical magazine (Abingdon, England), 2008-03, Vol.88 (8), p.1209-1226
2008
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Diffusion and defect data. Solid state data. Pt. A, Defect and diffusion forum, 2008-01, Vol.273-276, p.294-299
2008
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Journal of materials science, 2008, Vol.43 (23-24), p.7481-7487
2008
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Journal of atmospheric and oceanic technology, 2016-04, Vol.33 (4), p.769-788
2016
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