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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE electron device letters, 2023-02, Vol.44 (2), p.201-204
2023
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Review of scientific instruments, 2016-06, Vol.87 (6)
2016
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IEEE electron device letters, 2024-05, Vol.45 (5), p.750-753
2024
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-6
2023
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Assessment of Transistor Aging Models in a 28nm CMOS Technology at a Wide Range of Stress Conditions
2022
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-6
2023
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.8A.2-1-8A.2-9
2024
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Integration (Amsterdam), 2020-05, Vol.72, p.13-20
2020
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.P3-1-P3-5
2022
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-8
2023
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2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023, p.1-3
2023
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2021 IEEE Latin America Electron Devices Conference (LAEDC), 2021, p.1-4
2021
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2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2019, p.150-155
2019
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2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019, p.1-5
2019
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Modeling Analysis of BTI-driven degradation of a Ring Oscillator Designed in a 28-nm CMOS Technology
2023
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2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC), 2022, p.1-4
2022
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2017 14th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2017, p.1-4
2017
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2019
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2017 14th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2017, p.1-4
2017
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2018 15th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2018, p.53-56
2018
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2018
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2018 15th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2018, p.29-32
2018
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2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2017, p.87-90
2017
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- Kaczer, B.
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- Zhao, Y.
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- Catapano, E.
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- Clima, S.
- Xiang, Y.
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- Panarella, L.
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- Van Troeye, B.
- Guo, Y.
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