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2010
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IET computers & digital techniques, 2008-03, Vol.2 (2), p.108-117
2008
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2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009, p.111-116
2009
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2007-05, Vol.26 (5), p.907-918, Article 907
2007
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20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT'05), 2005, p.406-414
2005
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2010 IEEE International Test Conference, 2010, p.1-10
2010
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2009 International Test Conference, 2009, p.1-10
2009
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2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS), 2012, p.191-196
2012
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2009 International Test Conference, 2009, p.1-10
2009
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2009 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2009, p.383-391
2009
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2008 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance of VLSI Systems, 2008, p.394-402
2008
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26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008, p.79-84
2008
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2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS), 2012, p.80-85
2012
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2008 IEEE International Test Conference, 2008, p.1-10
2008
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2007 Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2007, p.738-743
2007
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Proceedings of the 2009 Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2009, p.678-683
2009
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2009 Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2009, p.678-683
2009
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2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2008, p.10-15
2008
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