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Electronics letters, 2016-10, Vol.52 (21), p.1774-1776
2016
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1774-1778
2014
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Journal of nuclear materials, 2003-03, Vol.313, p.630-635
2003
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Journal of nuclear materials, 1997-01, Vol.241, p.883-886, Article 883
1997
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