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2018
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IEEE transactions on electron devices, 2022-12, Vol.69 (12), p.7173-7179
- Veloso, A.
- Jourdain, A.
- Radisic, D.
- Chen, R.
- Arutchelvan, G.
- O'Sullivan, B.
- Arimura, H.
- Stucchi, M.
- De Keersgieter, A.
- Hosseini, M.
- Hopf, T.
- D'have, K.
- Wang, S.
- Dupuy, E.
- Mannaert, G.
- Vandersmissen, K.
- Iacovo, S.
- Marien, P.
- Choudhury, S.
- Schleicher, F.
- Sebaai, F.
- Oniki, Y.
- Zhou, X.
- Gupta, A.
- Schram, T.
- Briggs, B.
- Lorant, C.
- Rosseel, E.
- Hikavyy, A.
- Loo, R.
- Geypen, J.
- Batuk, D.
- Martinez, G. T.
- Soulie, J. P.
- Devriendt, K.
- Chan, B. T.
- Demuynck, S.
- Hiblot, G.
- Van der Plas, G.
- Ryckaert, J.
- Beyer, G.
- Litta, E. Dentoni
- Beyne, E.
- Horiguchi, N.
2022
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Subramanian, S.
- Hosseini, M.
- Chiarella, T.
- Sarkar, S.
- Schuddinck, P.
- Chan, B. T.
- Radisic, D.
- Mannaert, G.
- Hikavyy, A.
- Rosseel, E.
- Sebaai, F.
- Peter, A.
- Hopf, T.
- Morin, P.
- Wang, S.
- Devriendt, K.
- Batuk, D.
- Martinez, G. T.
- Veloso, A.
- Litta, E. Dentoni
- Baudot, S.
- Siew, Y. K.
- Zhou, X.
- Briggs, B.
- Capogreco, E.
- Hung, J.
- Koret, R.
- Spessot, A.
- Ryckaert, J.
- Demuynck, S.
- Horiguchi, N.
- Boemmels, J.
2020
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Mertens, H.
- Ritzenthaler, R.
- Hikavyy, A.
- Kim, M. S.
- Tao, Z.
- Wostyn, K.
- Chew, S. A.
- De Keersgieter, A.
- Mannaert, G.
- Rosseel, E.
- Schram, T.
- Devriendt, K.
- Tsvetanova, D.
- Dekkers, H.
- Demuynck, S.
- Chasin, A.
- Van Besien, E.
- Dangol, A.
- Godny, S.
- Douhard, B.
- Bosman, N.
- Richard, O.
- Geypen, J.
- Bender, H.
- Barla, K.
- Mocuta, D.
- Horiguchi, N.
- Thean, A. V-Y
2016
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-6
2020
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Journal of applied physics, 2013-08, Vol.114 (7)
2013
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T56-T57
2015
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IEEE electron device letters, 2016-09, Vol.37 (9), p.1084-1087
2016
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2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023, p.1-2
- Mertens, H.
- Hosseini, M.
- Chiarella, T.
- Zhou, D.
- Wang, S.
- Mannaert, G.
- Dupuy, E.
- Radisic, D.
- Tao, Z.
- Oniki, Y.
- Hikavyy, A.
- Rosseel, R.
- Mingardi, A.
- Choudhury, S.
- Gowda, P. Puttarame
- Sebaai, F.
- Peter, A.
- Vandersmissen, K.
- Soulie, J.P.
- Keersgieter, A. De
- Lima, L. Petersen Barbosa
- Cavalcante, C.
- Batuk, D.
- Martinez, G.T.
- Geypen, J.
- Seidel, F.
- Paulussen, K.
- Favia, P.
- Boemmels, J.
- Loo, R.
- Wong, P.
- Marquez, A. Sepulveda
- Chan, B.T.
- Mitard, J.
- Subramanian, S.
- Demuynck, S.
- Litta, E. Dentoni
- Horiguchi, N.
- Samavedam, S.
- Biesemans, S.
2023
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Microelectronic engineering, 2007-11, Vol.84 (11), p.2669-2674
2007
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Journal of the Electrochemical Society, 2013, Vol.160 (3), p.D89-D94
2013
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Vandooren, A.
- Wu, Z.
- Parihar, N.
- Franco, J.
- Parvais, B.
- Matagne, P.
- Debruyn, H.
- Mannaert, G.
- Devriendt, K.
- Teugels, L.
- Vecchio, E.
- Radisic, D.
- Rosseel, E.
- Hikavyy, A.
- Chan, B. T.
- Waldron, N.
- Mitard, J.
- Besnard, G.
- Alvarez, A.
- Gaudin, G.
- Schwarzenbach, W.
- Radu, I.
- Nguyen, B. Y.
- Huet, K.
- Tabata, T.
- Mazzamuto, F.
- Demuynck, S.
- Boemmels, J.
- Collaert, N.
- Horiguchi, N.
2020
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.284-285
- Veloso, A.
- Jourdain, A.
- Radisic, D.
- Chen, R.
- Arutchelvan, G.
- O'Sullivan, B.
- Arimura, H.
- Stucchi, M.
- Keersgieter, A. De
- Hosseini, M.
- Hopf, T.
- D'Have, K.
- Wang, S.
- Dupuy, E.
- Mannaert, G.
- Vandersmissen, K.
- Iacovo, S.
- Marien, P.
- Choudhury, S.
- Schleicher, F.
- Sebaai, F.
- Oniki, Y.
- Zhou, X.
- Gupta, A.
- Schram, T.
- Briggs, B.
- Lorant, C.
- Rosseel, E.
- Hikavyy, A.
- Loo, R.
- Geypen, J.
- Batuk, D.
- Martinez, G. T.
- Soulie, J. P.
- Devriendt, K.
- Chan, B. T.
- Demuynck, S.
- Hiblot, G.
- der Plas, G. Van
- Ryckaert, J.
- Beyer, G.
- Litta, E. Dentoni
- Beyne, E.
- Horiguchi, N.
2022
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Gupta, A.
- Mertens, H.
- Tao, Z.
- Demuynck, S.
- Bommels, J.
- Arutchelvan, G.
- Devriendt, K.
- Pedreira, O. Varela
- Ritzenthaler, R.
- Wang, S.
- Radisic, D.
- Kenis, K.
- Teugels, L.
- Sebaai, F.
- Lorant, C.
- Jourdan, N.
- Chan, B. T.
- Zahedmanesh, H.
- Subramanian, S.
- Schleicher, F.
- Hopf, T.
- Peter, A.
- Rassoul, N.
- Debruyn, H.
- Demonie, I.
- Siew, Y.
- Chiarella, T.
- Briggs, B.
- Zhou, D.
- Rosseel, E.
- De Keersgieter, A.
- Capogreco, E.
- Litta, E. Dentoni
- Boccardi, G.
- Baudot, S.
- Mannaert, G.
- Bontemps, N.
- Sepulveda, A.
- Mertens, S.
- Kim, M. S.
- Dupuy, E.
- Vandersmissen, K.
- Paolillo, S.
- Yakimets, D.
- Chehab, B.
- Favia, P.
- Drijbooms, C.
- Cousserier, J.
- Jaysankar, M.
- Lazzarino, F.
- Morin, P.
- Sanchez, E.
- Mitard, J.
- Wilson, C.
- Holsteyns, F.
- Tokei, Z.
- Horiguchi, N.
2020
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Comparative biochemistry and physiology. Toxicology & pharmacology, 2007-05, Vol.145 (4), p.658-668
2007
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Journal of investigative dermatology, 2023-05, Vol.143 (5), p.S244-S244
2023
Volltextzugriff (PDF)
Perspectives on terrorism (Lowell), 2022-12, Vol.16 (6), p.200-209
2022
Volltextzugriff (PDF)
Perspectives on terrorism (Lowell), 2022-10, Vol.16 (5), p.198-206
2022
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Photochemistry and photobiology, 2003-12, Vol.78 (6), p.599-602
2003
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2008-10, Vol.85 (10), p.2009-2012
2008
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T30-T31
2015
Volltextzugriff (PDF)
Applied soil ecology : a section of Agriculture, ecosystems & environment, 2019-06, Vol.138, p.99-111
2019
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Journal of physics. Conference series, 2010-02, Vol.209 (1), p.012047
2010
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Ecological engineering, 2022-09, Vol.182, p.106694, Article 106694
2022
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Archives of environmental contamination and toxicology, 1997-08, Vol.33 (2), p.203-208
1997
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