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Study of Proton-Induced Defects in 40-nm CMOS SPADs
IEEE transactions on nuclear science, 2023-08, Vol.70 (8), p.1-1
2023
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Displacement Damage Characterization of CMOS Single-Photon Avalanche Diodes: Alpha-Particle and Fast-Neutron Measurements
IEEE transactions on nuclear science, 2021-05, Vol.68 (5), p.777-784
2021
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Observation framework of errors in microprocessors with machine learning location inference of radiation-induced faults
Microelectronics and reliability, 2022-10, Vol.137, p.114667, Article 114667
2022
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Effect of Proton Energy and Bias Conditions during Irradiation on CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
IEEE transactions on nuclear science, 2024-04, Vol.71 (4), p.1-1
2024
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Outstanding Conference Paper Award: 2023 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference
IEEE transactions on nuclear science, 2024-04, Vol.71 (4), p.372-374
2024
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Proton-Induced Displacement Damages in 2-D and Stacked CMOS SPADs: Study of Dark Count Rate Degradation
IEEE transactions on nuclear science, 2023-04, Vol.70 (4), p.515-522
2023
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Radiation Characterization of a Backside-Illuminated P-Type Photo-MOS Pixel With Gamma Rays and Fusion-Induced Neutrons
IEEE transactions on nuclear science, 2022-03, Vol.69 (3), p.534-541
2022
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Radiation-Hardened Cortex-R4F System-on-Chip Prototype With Total Ionizing Dose Dynamic Compensation in 28-nm FD-SOI
IEEE transactions on nuclear science, 2021-05, Vol.68 (5), p.1040-1044
2021
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FIRECAP: Fail-Reason Capturing hardware module for a RISC-V based System on a Chip
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021, p.1-6
2021
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Industrial IP integration flows based on IP-XACT standards
2008 Design, Automation and Test in Europe, 2008, p.32-37
2008
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CLASS: on-Chip Lightweight Accurate SEU/SET event claSSifier
2019 19th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2019, p.1-7
2019
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Open Access
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Adaptive Encoding of Multimedia Streams on MPSoC
Computational Science – ICCS 2006, 2006, p.999-1006
2006
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Industrial IP integration flows based on IP-XACT™ standards
Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe, 2008, p.32-37
2008
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TDE: A Time Driven Engine for Predictable Execution of Realtime Systems
Object-Oriented Technology: ECOOP’98 Workshop Reader, p.519-524
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