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Degradation mapping of IGZO TFTs
2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2022, p.1-5
2022
Volltextzugriff (PDF)


Journal of micromechanics and microengineering, 2005-07, Vol.15 (7), p.S89-S96
2005
Volltextzugriff (PDF)

Educational assessment, evaluation and accountability, 2015-11, Vol.27 (4), p.323-346
2015
Volltextzugriff (PDF)


Journal of micromechanics and microengineering, 2005-07, Vol.15 (7), p.S165-S170
2005
Volltextzugriff (PDF)




Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.1971-1974
2012
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2018-10, Vol.8 (10), p.1747-1755
2018
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronic engineering, 2004-10, Vol.76 (1-4), p.245-257
2004
Volltextzugriff (PDF)


Journal of micromechanics and microengineering, 2002-09, Vol.12 (5), p.702-713, Article 329
2002
Volltextzugriff (PDF)


IEEE transactions on electron devices, 1999-06, Vol.46 (6), p.1245-1252
1999
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1856-1859
2011
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronic engineering, 2004-10, Vol.76 (1-4), p.272-278
2004
Volltextzugriff (PDF)




Sensors and actuators. A. Physical., 2012-12, Vol.188, p.320-328
2012
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on electron devices, 1996-06, Vol.43 (6), p.940-945
1996
Volltextzugriff (PDF)

Journal of microelectromechanical systems, 2007-06, Vol.16 (3), p.571-580
2007
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