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Technische Störung

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Microelectronics and reliability, 2022-11, Vol.138, p.114736, Article 114736
2022
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Physica status solidi. A, Applications and materials science, 2007-09, Vol.204 (9), p.3017-3022
2007
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Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1389-1393
2007
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How reliable are reliability tests?
Microelectronics and reliability, 2002-09, Vol.42 (9), p.1339-1345
2002
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The Journal of chemical physics, 1987-01, Vol.86 (2), p.618-623
1987
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