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Complex diffractometrical investigation of structural and compositional irregularities in GaAs:Si/GaAs films heavily doped with silicon
Semiconductor physics, quantum electronics, and optoelectronics, 2001-07, Vol.4 (3), p.146-151
2001
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Microdefects and nonstoichiometry level in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy method
Journal of alloys and compounds, 2001-10, Vol.328 (1), p.218-221
2001
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Structure Perfection Diagnostics of Single Crystals by Means of Diffractometry Measurements Using X-Ray Continuous Spectrum
Acta physica Polonica, A, 1994-10, Vol.86 (4), p.579-584
1994
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Influence of Dislocation Interactions with Impurities on their Topographical Images in Silicon Crystals
Acta physica Polonica, A, 1996-09, Vol.90 (3), p.541-546
1996
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Investigation of Near Surface Distortions in Si Single Crystals by Means of Spatial Distribution Analysis of Reflected Beams
Acta physica Polonica, A, 1996-03, Vol.89 (3), p.309-313
1996
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X-ray Diffraction Investigations of Structure of Silicon Single Crystals after Irradiation by Heavy Ions
Acta physica Polonica, A, 1996-03, Vol.89 (3), p.301-307
1996
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Influence of Preannealing on Perfection of Czochralski Grown Silicon Crystals Subjected to High Pressure Treatment
Acta physica Polonica, A, 1994-10, Vol.86 (4), p.585-590
1994
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Oxygen Precipitation in Cz-Si under Uniform Stress
ESSDERC '94: 24th European Solid State Device Research Conference, 1994, p.243-246
1994
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Rapid Structure Perfection Diagnostics of GaAs Single Crystal by Diffraction of White X-Ray Radiation
Acta physica Polonica, A, 1994-10, Vol.86 (4), p.591-597
1994
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Imperfections in the transient layer of the SiSi e-Ge heteroepitaxial system
Thin solid films, 1976, Vol.32 (2), p.371-373
1976
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Crystalline structure of germanium films on silicon substrates
Thin solid films, 1971-02, Vol.7 (2), p.117-125
1971
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Imperfections in the transient layer of the SiSie-Ge heteroepitaxial system
Thin solid films, 1976-03, Vol.32 (2), p.371-373
1976
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Mechanical stresses in the heterosystem germanium- gallium arsenide
Thin solid films, 1976-01, Vol.33 (3), p.275-280
1976
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Crystalline structure of germanium films on silicon substrates: I. Investigation of the perfection of germanium heteroepitaxial films on silicon by X-ray diffraction methods
Thin solid films, 1971, Vol.7 (2), p.117-125
1971
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Structural perfection of the GeSi and SiGe heteroepitaxial systems
Thin solid films, 1974-07, Vol.22 (3), p.221-229
1974
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