Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microelectronic engineering, 2005-06, Vol.80, p.114-121
2005
Volltextzugriff (PDF)
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004, 2004, p.105-108
2004
Volltextzugriff (PDF)
2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.700-701
2005
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Physical Sciences
- Physics
- Science & Technology
- Technology
- Hot Carriers
- Impact Ionization
- Negative Bias Temperature Instability
- Niobium Compounds
- Physics, Applied
- Stress
- Titanium Compounds
- Analog Computers
- Applied Sciences
- Bulk Traps
- Cmos Technology
- Degradation
- Design. Technologies. Operation Analysis. Testing
- Electronics
Kollektion
Zeitschrift / Serie