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Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.227-232
2017
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Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1640-1645
2011
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Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1476-1481
2005
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Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.227-232
2017
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Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1715-1720
2004
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In vitro cellular & developmental biology. Plant, 2007-09, Vol.43 (5), p.436-441
2007
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2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, p.574-584
2006
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Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2004 (IEEE Cat. No.04TH8743), 2004, p.139-142
2004
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18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2011, p.1-4
2011
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2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2008, p.1-5
2008
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Action publique, 2022-12, Vol.N° 15 (3), p.40-41
2022
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Action publique, 2022-12, Vol.N° 15 (3), p.51-51
2022
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