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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Journal of electronic materials, 2024-08, Vol.53 (8), p.4421-4431
2024
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Solid-state electronics, 2009-07, Vol.53 (7), p.730-734
- Fenouillet-Beranger, C.
- Denorme, S.
- Perreau, P.
- Buj, C.
- Faynot, O.
- Andrieu, F.
- Tosti, L.
- Barnola, S.
- Salvetat, T.
- Garros, X.
- Cassé, M.
- Allain, F.
- Loubet, N.
- Pham-Nguyen, L.
- Deloffre, E.
- Gros-Jean, M.
- Beneyton, R.
- Laviron, C.
- Marin, M.
- Leyris, C.
- Haendler, S.
- Leverd, F.
- Gouraud, P.
- Scheiblin, P.
- Clement, L.
- Pantel, R.
- Deleonibus, S.
- Skotnicki, T.
2009
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IEEE transactions on nanotechnology, 2008-09, Vol.7 (5), p.551-557
2008
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Microelectronics and reliability, 2005-05, Vol.45 (5), p.925-928
2005
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Microelectronic engineering, 2006-11, Vol.83 (11-12), p.2163-2168
2006
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Solid-state electronics, 2009-07, Vol.53 (7), p.735-740
2009
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2016 IEEE 66th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2016, p.869-876
2016
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2020 IEEE 22nd Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2020, p.453-458
2020
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2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018, p.4D.4-1-4D.4-7
2018
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2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.586-587
2005
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2013 IEEE 15th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC 2013), 2013, p.162-167
2013
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2015 IEEE 17th Electronics Packaging and Technology Conference (EPTC), 2016, p.1-4
2016
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2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, p.8.5.1-8.5.4
- Michailos, J.
- Coudrain, P.
- Farcy, A.
- Hotellier, N.
- Cheramy, S.
- Lhostis, S.
- Deloffre, E.
- Sanchez, Y.
- Jouve, A.
- Guyader, F.
- Saugier, E.
- Fiori, V.
- Vivet, P.
- Vinet, M.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Casset, F.
- Batude, P.
- Breuf, F.
- Henrion, Y.
- Vianne, B.
- Collin, L.-M
- Colonna, J.-P
- Benaissa, L.
- Brunet, L.
- Prieto, R.
- Velard, R.
- Ponthenier, F.
2015
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.7.3.1-7.3.4
2018
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Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials, 2003-04, Vol.15-16, p.111-114
2003
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IEEE transactions on nanotechnology, 2008-09, Vol.7 (5), p.551
2008
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2010 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2010, p.1-6
2010
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Solid-state electronics, 2009-07, Vol.53 (7), p.730-734
- Fenouillet-Beranger, C.
- Denorme, S.
- Perreau, P.
- Buj, C.
- Faynot, O.
- Andrieu, F.
- Tosti, L.
- Barnola, S.
- Salvetat, T.
- Garros, X.
- Cassé, M.
- Allain, F.
- Loubet, N.
- Pham-Nguyen, L.
- Deloffre, E.
- Gros-Jean, M.
- Beneyton, R.
- Laviron, C.
- Marin, M.
- Leyris, C.
- Haendler, S.
- Leverd, F.
- Gouraud, P.
- Scheiblin, P.
- Clement, L.
- Pantel, R.
- Deleonibus, S.
- Skotnicki, T.
2009
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ESSDERC 2008 - 38th European Solid-State Device Research Conference, 2008, p.206-209
- Fenouillet-Beranger, C.
- Denorme, S.
- Perreau, P.
- Buj, C.
- Faynot, O.
- Andrieu, F.
- Tosti, L.
- Barnola, S.
- Salvetat, T.
- Garros, X.
- Casse, M.
- Allain, F.
- Loubet, N.
- Pham-NGuyen, L.
- Deloffre, E.
- Gros-Jean, M.
- Beneyton, R.
- Laviron, C.
- Marin, M.
- Leyris, C.
- Haendler, S.
- Leverd, F.
- Gouraud, P.
- Scheiblin, P.
- Clement, L.
- Pantel, R.
- Deleonibus, S.
- Skotnicki, T.
2008
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2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, 2007, p.359-365
2007
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Microelectronic engineering, 2006, Vol.83 (11), p.2163-2168
2006
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2016 6th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), 2016, p.1-7
2016
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ESSDERC 2008 - 38th European Solid-State Device Research Conference, 2008, p.210-213
2008
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2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007, p.58-59
2007
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2011 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2011 IEEE International, 2012, p.1-5
2012
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