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2018
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Applied physics letters, 2018-05, Vol.112 (22)
2018
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Applied physics letters, 2021-01, Vol.118 (1)
2021
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Applied physics letters, 2023-07, Vol.123 (2)
2023
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Applied physics letters, 2018-09, Vol.113 (12)
2018
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IEEE transactions on electron devices, 2023-11, Vol.70 (11), p.5645-5650
2023
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Applied physics letters, 2020-07, Vol.117 (4)
2020
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IEEE transactions on electron devices, 2019-08, Vol.66 (8), p.3356-3364
2019
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IEEE transactions on electron devices, 2020-07, Vol.67 (7), p.2981-2987
2020
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IEEE transactions on electron devices, 2020-07, Vol.67 (7), p.2793-2799
2020
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Applied physics letters, 2006-04, Vol.88 (15)
2006
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Journal of applied physics, 2006-04, Vol.99 (7), p.074105-074105-6
2006
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Microelectronic engineering, 2017-06, Vol.178, p.262-265
2017
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2008
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF), 2020, p.1-3
2020
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-9
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2006-07, Vol.24 (4), p.2115-2118
2006
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.28.7.1-28.7.4
2019
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Semiconductor science and technology, 2008-03, Vol.23 (3), p.035010
2008
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Solid-state electronics, 2009-08, Vol.53 (8), p.833-836
2009
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2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF), 2020, p.1-3
2020
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IEEE electron device letters, 2009-05, Vol.30 (5), p.568-570
2009
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Microelectronic engineering, 2009-04, Vol.86 (4), p.949-952
2009
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Microelectronic engineering, 2007-09, Vol.84 (9), p.2222-2225
2007
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