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Microelectronic engineering, 2012-04, Vol.92, p.126-129
2012
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Thin solid films, 1999-08, Vol.350 (1-2), p.203-208
1999
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Electrochimica acta, 2003-09, Vol.48 (20), p.2987-2996
2003
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Optics express, 2004-04, Vol.12 (7), p.1341-1352
2004
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Thin solid films, 1991-03, Vol.197 (1), p.117-128
1991
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Applied surface science, 2007-06, Vol.253 (16), p.6784-6786
2007
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Thin solid films, 1996-09, Vol.283 (1-2), p.84-89
1996
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Thin solid films, 2001-06, Vol.389 (1), p.213-218
2001
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Microelectronic engineering, 2003-11, Vol.70 (2), p.495-500
2003
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Applied Optics, 1990-04, Vol.29 (12), p.1805
1990
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Microelectronic engineering, 2004-10, Vol.76 (1-4), p.182-189
2004
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Thin solid films, 2003-02, Vol.426 (1), p.288-295
2003
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Journal of non-crystalline solids, 2001-08, Vol.289 (1-3), p.221-227
2001
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Microelectronic engineering, 2003-11, Vol.70 (2), p.489-494
2003
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Microelectronic engineering, 2003-01, Vol.65 (1), p.197-207
2003
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Journal of applied physics, 1992-11, Vol.72 (9), p.3878-3883
1992
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2004-03, Vol.217 (1), p.65-76
2004
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Thin solid films, 1997-07, Vol.303 (1), p.273-276
1997
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