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Leveraging puma DF wafer inspection to characterize root cause of yield loss on an advanced 32 nm HKMG SOI technology device
ASMC 2013 SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, 2013, p.265-267
2013
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Formation and Reduction of Embedded Contamination Defects Detected after FEOL Poly Patterning
The 17th Annual SEMI/IEEE ASMC 2006 Conference, 2006, p.206-210
2006
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Open Access
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Establishing need and population priorities to improve the health of homeless and vulnerably housed women, youth, and men: A Delphi consensus study
PloS one, 2020-04, Vol.15 (4), p.e0231758-e0231758
2020
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Metaphorical Mirror: Reflecting on Our Personal Pursuits to Discover and Challenge Our Teaching Practice Assumptions
International journal of teaching and learning in higher education, 2008, Vol.20 (3), p.503
2008
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